خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits

آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم. توضیحاتی در مورد کتاب آزمایش در سطح ویفر به فرآیندی حیاتی از قرار دادن مدارهای مجتمع و دستگاه های نیمه هادی تحت آزمایش الکتریکی در حالی که هنوز به شکل ویفر هستند اشاره دارد. Burn-in یک تست استرس قابلیت اطمینان دما/سوگیری است که برای شناسایی و غربالگری خرابی‌های بالقوه دستگاه اولیه استفاده می‌شود. این منبع عملی تجزیه و تحلیل جامعی از این روش‌ها ارائه می‌کند و نشان می‌دهد که چگونه تست سطح ویفر در حین سوختن (WLTBI) به کاهش هزینه محصول در تولید نیمه‌رسانا کمک می‌کند. مهندسان یاد می گیرند که چگونه آزمایش مدارهای مجتمع را در سطح ویفر تحت محدودیت های منابع مختلف پیاده سازی کنند. علاوه بر این، این کتاب منحصر به فرد به پزشکان کمک می کند تا به موضوع فعال کردن محصولات نسل بعدی با آزمایش کننده های نسل قبلی بپردازند. پزشکان همچنین بینش های تخصصی در مورد روندهای فعلی صنعت را در راه حل های تست WLTBI پیدا می کنند.