با فروشگاه های آماده فونیکس در سریع ترین زمان ممکن کسب درآمد اینترنتی خود را شروع کنید!

دانلود کتاب Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits

دسته‌بندی: تاریخ به روز رسانی: 25 خرداد 1405

ناموجود

تمامی خدمات و سرویس های این مجموعه دارای اصالت و گارانتی پشتیبانی می باشد.
به راحتی هرچه تمام تر کسب و کار خود را شروع کنید (از صفر تا صد کنار شما خواهیم بود)

  • تضمین بهترین قیمت بازار
  • پشتیبانی عالی ۲۴ ساعته، ۷ روز هفته
  • اصالت کالاها از برترین برندها
  • تحویل سریع در کمترین زمان ممکن

 تست و طراحی برای آزمایش پذیری در مدارهای مجتمع سیگنال مختلط به آزمایش و طراحی برای آزمایش مدارهای مجتمع آنالوگ و سیگنال مختلط می پردازد. به خصوص در سیستم روی تراشه (SoC)، که در آن فناوری‌های مختلف (آنالوگ، دیجیتال، حسگرها، RF) در هم تنیده شده‌اند. تست در حال تبدیل شدن به یک گلوگاه واقعی پروژه های آی سی حال و آینده است. پیوند طراحی و آزمایش در این سیستم‌های ناهمگن تأثیر فوق‌العاده‌ای از نظر زمان تست، هزینه و مهارت خواهد داشت. اگرچه این موضوع به عنوان یک موضوع کلیدی برای توسعه IC های پیچیده شناخته می شود، اما هنوز فقدان منابع ساختاری برای ارائه موضوعات اصلی در این زمینه وجود دارد. هدف این کتاب ارائه مفاهیم اساسی و ایده های جدید به شیوه ای قابل درک برای متخصصان و دانشجویان است. از آنجایی که این یک زمینه تحقیقاتی فعال است، یک مرور جامع پیشرفته بسیار ارزشمند است که مشکلات اصلی و همچنین راه‌های حل امیدوارکننده را معرفی می‌کند و بر اساس، نقاط قوت و ضعف آنها تأکید می‌کند. در اصل چندین موضوع به تفصیل ارائه شده است. اول از همه، تکنیک هایی برای استفاده کارآمد از تست مبتنی بر DSP و ابزارهای تست CAD. استانداردسازی موضوع دیگری است که در این کتاب با تمرکز بر IEEE 1149.4 در نظر گرفته شده است. همچنین طراحی اتصال و آزمایش با استفاده از تکنیک‌های توصیف سطح بالا (رفتاری) به طور عمیق مورد توجه قرار گرفته است، نمونه‌های خاصی آورده شده است. موضوع دیگر مربوط به تکنیک‌های تست برای کلاس‌های کاملاً تعریف‌شده بلوک‌های یکپارچه، مانند مبدل‌های داده و حلقه‌های قفل‌شده فاز است. علاوه بر این تکنیک‌های آزمایش مبتنی بر مشخصات، رویکردهای خطا محور توصیف می‌شوند زیرا راه‌حل‌های بالقوه‌ای را ارائه می‌دهند که بیشتر شبیه به روش‌های تست دیجیتال هستند. در نهایت، در Design-for-Testability و Built-In-Self-Test، دو مفهوم دیگر که از طراحی دیجیتال گرفته شده است، در یک زمینه آنالوگ معرفی شده و برای مورد فیلترهای یکپارچه به تصویر کشیده شده است. به طور خلاصه، هدف این کتاب ارائه نگاهی اجمالی به نتایج تحقیقات اخیر در زمینه آزمایش مدارهای مجتمع سیگنال مختلط، به ویژه در موضوعات ذکر شده در بالا است. بسیاری از کارهای گزارش شده در اینجا در پروژه های مشترک تحقیقاتی اروپایی انجام شده است، که در آن نویسندگان فصل های مختلف به طور فعال با یکدیگر همکاری کرده اند. این یک تصویر لحظه ای نماینده از وضعیت فعلی هنر در این زمینه نوظهور است.

نقد و بررسی‌ها

نقد و بررسی وجود ندارد.

افزودن نقد و بررسی

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

سبد خرید

سبد خرید شما خالی است.

ورود به سایت
رهگیری سفارشات
بله روبیکا ایتا